Keterangan
BRIEF DESCRIPTION PROBE F AND PROBE NF :
-TYPE PROBE F : Untuk mengukur ketebalan bahan non-magnetik seperti Lapisan Cat, Plastik, Procelain, Enamel, Tembaga, Seng,
Aluminium, krom dll yang menempel pada bahan magnetik seperti besi, nikel dll.
-APLIKASI UMUM TYPE PROBE F : Mengukur ketebalan lapisan galvanis, lapisan pernis, lapisan enamel porselen, lapisan fospida,
Genteng , Tembaga, Genteng Aluminium, Ubin campuran logam, Kertas, dan lainnya.
-TYPE PROBE NF : Untuk mengukur ketebalan lapisan non-magnetik pada bahan logam non-magnetik.
Hal ini banyak digunakan dalam proses anodasi, pernis, cat, enamel, lapisan plastik,
bubuk diterapkan untuk aluminium, kuningan, stainless steel non-magnetik, dll.
Substrat : Probe F ; Probe NF
Prinsip : Induksi magnetik ; Eddy Current
Rentan Pengukuran : 0~1300um/0~51.2mil
Akurasi : ±(3%+2um)/±(3%+0.08mil)
Resolusi : 0.1um/0.01mil
Kalibrasi Lembar Standar : NOL/50/100/250/500/1000um
Unit : um, mil
Minimum Lengkung Radius Cembung : 1.5mm
Minimum Lengkung Radius Cekung : 25mm
Minimum Area Berukuran : Diameter 6mm
Ketebalan Minimum Substrat : 0.5mm (0.02 inci) ; 0.3mm (0.012 inci)
Power : 4 x AAA baterai
Lingkungan Operasi :
Suhu : 0~40º C(32~104º F)
Kelembapan : 20% ~ 90% RH
Weight (No Battery) : 125 gr